Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Оценка вероятности проявления дефекта при однократном и многократном выполнении ФСО после КО
Каждая подсистема ФПО характеризуется следующими показателями: − среднее остаточное число дефектов после КО; − среднее число значений входного вектора, предъявляемых при однократном выполнении ФСО; − распределение вероятностей наличия дефекта по КМ различных рангов; . Исходные данные для расчета вероятностей проявления дефектов по формулам (10.32) и (10.33) приведены в табл. 4.14, а результаты расчетов − в табл. 4.15. Таблица 4.14 Распределение вероятностей проявления дефекта по КМ Таблица 4.15 Вероятность проявления дефекта при однократном выполнении ФСО
Вероятность проявления дефектов при многократном выполнении ФСО рассчитывают по формуле (10.34) с учетом данных, приведенных в табл. 4.15. Результаты расчетов приведены в табл. 4.16. Таблица 4.16 Вероятность проявления дефектов при многократном выполнении ФСО
Условную и безусловную вероятности проявления дефектов БД при однократном и многократном обращении к ней до проведения отладки находят по формулам (10.35) и (10.37), а при обращении после отладки − по формулам (10.36) и (10.37) Расчеты проводят при следующих исходных данных: =6 Мбайт, V= 0, 5 Мбайт для подсистем ДУ и ОП, V =0, 25 Мбайт для подсистемы АУ, Результаты расчетов приведены в табл. 4.17− 4.21. До отладки условная и безусловная вероятности практически совпадают, так как . Из-за одинаковых объемов используемых данных характеристики подсистем ДУ и ОП совпадают. Таблица 4.17 Вероятность проявления дефектов БД до отладки
Таблица 4.18 Условная вероятность проявления дефектов БД после автономной отладки
Таблица 4.19 Безусловная вероятность проявления дефектов БД после автономной отладки
Таблица 4.20 Условная вероятность проявления дефектов БД после комплексной отладки
Таблица 4.21 Безусловная вероятность проявления дефектов БД после комплексной отладки
Из данных, приведенных в табл. 4.17, видно, что в начале АО первый дефект уверенно обнаруживается уже после первых 10− 15 тестов БД. После АО вероятность проявления дефекта снижается, но остается довольно высокой (см. табл. 4.19). Вероятность того, что после АО в БД не останется ни одного дефекта, оценивается величиной при выполнении АУ и при выполнении ДУ или ОП. После комплексной отладки, то есть в начале эксплуатации, вероятность отказа ИО при однократном выполнении ФСО оказывается существенно больше (см. табл. 4.21), чем вероятность отказа ФПО (см. табл. 4.15), − почти на два порядка. При многократном выполнении ФСО в число обращений М включают только независимые обращения. Фактически могут наблюдаться многократные обращения к одному и тому же фрагменту данных, и тогда вероятность проявления дефектов не меняется при увеличении числа обращений. Чтобы учесть этот фактор, введем поправочный коэффициент , равный доле независимых обращений. Для данной системы принимается . Суммарная вероятность отказа ФПО и ИО при однократном выполнении ФСО после комплексной отладки, рассчитанная по схеме независимых событий, приведена в табл. 4.22. Вероятность отказа существенно зависит от объема , используемого при однократном обращении фрагмента БД. Таблица 4.22 Вероятность отказа ФПО и ИО при однократном выполнении ФСО
|