Структурні дослідження

Х-структурні дослідження здійснювались на спектральному комплексі STOE TransmissionDiffractometerSystem STADI P при кімнатній температурі Τ = 297 Κ. Зразками для досліджень були порошки, одержані внаслідок розтирання монокристалів Іn_xTl_1-xI в агатовій ступці.

На основі даних експериментальних масивів і структурних моделей за методом Рітвельда проводили розрахунки теоретичних інтенсивностей і уточнення параметрів комірки, координат атомів та ізотропних температурних параметрів атомів. Ця методика дала змогу не лише отримати параметри елементарної комірки, але і визначити густину зразків та положення атомів в елементарній комірці.

У результаті Х-структурних досліджень порошків було отримано масиви інтенсивностей дифракційних піків залежно від кута відбивання та побудовано експериментальні дифрактограми (див. рис. 3.4). Обробку дифрактограм, відповідні розрахунки і встановлення параметрів елементарної комірки було здійс­нено з використанням програмного пакету STOE WinXPOW. ТРЗ In_xTl_1-xI кристалізуються у шаруватій орторомбічній структурі з просторовою групою симетрії Cmcm. В елементарній комірці міститься 8 атомів (порядок h =8).

Рис. 3.4. Дифрактограма одержана для кристала In_{0, 4}Tl_{0, 6}I

Заміна атомів In на більші атоми Tl призводить до збільшення кристалографічних осей в напрямку b і c та зменшенням параметра а, із загальним збільшенням об’єму елементарної комірки.

Цікаво відзначити, що у нас є протилежна ситуація в діапазоні In_0.5-0.4Tl_0.5-0.6I: зменшення параметрів b і c, а також збільшення параметра а, разом зі зменшенням об’єму, які могли б вказувати на можливість структурного впорядкування поблизу стехіометричного складу InTlI₂.