![]() Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Световая и электронная микроскопияСтр 1 из 7Следующая ⇒
Наиболее информативными и поэтому широко используемыми методами определения дисперсности и формы частиц являются световая и электронная микроскопия. С их помощью можно непосредственно наблюдать частицы и устанавливать их размеры, т.е. исследовать наиболее широкий круг дисперсных систем как по дисперсности, так и по агрегатному состоянию фаз. Нижний предел световой микроскопии – до 100 нм, электронной микроскопии – до 2 - 5 нм. Образец обычно берется в виде очень тонкого прозрачного слоя или среза; его кладут на прямоугольную стеклянную пластинку, называемую предметным стеклом, и накрывают сверху более тонкой стеклянной пластинкой меньших размеров, называемой покровным стеклом.
|