Главная страница Случайная страница
КАТЕГОРИИ:
АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника
Функциональных узлов.
|
|
Следующие градации поколений ЦИУ отражают применение интегральных схем (ИС) различной степени интеграции и технологий.
Третье поколение относится ко второй половине 60-х – 70-м гг., когда стали
применяться ИС малой степени интеграции (1–100 элементов на полупроводниковом кристалле, в зависимости от типа и технологии).
Появление четвёртого поколения ЦИУ можно отнести ко второй половине
70-х гг., когда появились большие ИС (БИС) – до 104 элементов на кристалле. С
использованием одной или нескольких БИС реализовались функциональные узлыи блоки, стали широко применяться ИС микромощных (КМОП)и
быстродействующих (ЭСЛ, БПЛ) технологий.
Пятое поколение ЦИУ– начало 80-х, 90-е гг. и по сегодняшний день.
Устройства характерны применением сверхбольших ИС (СБИС) – более 104
элементов на кристалл. На основе СБИС реализуются не только отдельные блоки, но и полностью определённые измерительные устройства.
Стали внедряться ИС сверхскоростных технологий (ССИС, ССБИС), в
которых применена буферизированная полевая логика(БПЛ) на основе полевых транзисторов с барьером Шотки (ПТШ). Тактовые частоты ИС возросли до1–1, 2
ГГц (БПЛ), а у делителей частоты– до 2, 5–3, 5 ГГц (динамические ИС193
серии).
В состав ЦИУ введены узлы и элементная база для цифровой обработки
| сигналов, использующая как дискретные компоненты(например, | диоды с | |||||
| барьером | Шотки (ДБШ), диоды | с | накоплением | заряда(ДНЗ), | так | и БИС, |
| включающие несколько АЦП, | ЦАП, устройств | выборки-хранения(УВХ), | ||||
| портов ввода-выводаи т.п. | ||||||
| ДНЗ | позволили формировать | импульсные | сигналы с | длительностью |
фронта 30–300 пс, что в сочетании с быстродействующими АЦП и ОЗУ дало
возможность строить измерительные устройства с заменой аналогов