![]() Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Физические методы изучения структуры материалов. 1. Методы изучения элементного состава материалов 720⇐ ПредыдущаяСтр 17 из 17
1. Методы изучения элементного состава материалов 720 1.1 Особенности эмиссионного спектрального анализа 720 1.2 Способы локализации разряда 722 1.3 Способ поверхностного и послойного спектрального анализа 726 1.4 Качественный эмиссионный спектральный анализ 727 1.5 Особенности эмиссионный спектральный анализ 729 1.6 Количественный эмиссионный спектральный анализ 731 1.7 Спектральные приборы 734 1.8 Примеры практического применения 736 1.8.1 Определение содержания углерода 736 1.8.2 Послойный микроанализ на углерод в сталях 736 1.8.3. Анализ неметаллических включений в сталях 737 1.8.4 Локальный микроанализ с применением ограничительных шайб 737 1.8.5 Микроанализ ликвационной неоднородности сплавов 737 1.8.6 Спектральный анализ сложнолегированных сталей 738 1.8.7 Специальные методы спектрального анализа 738 2. Рентгеноспектральный анализ 739 2.1 Физические особенности флуоресцентного рентгеноспектрального анализа 739 2.2 Возможности рентгеноспектрального анализа и его применение 742 2.3 Основные этапы рентгеноспектрального анализа 743 2.4 Нахождение концентрации определяемого элемента 747 2.5 Аппаратура рентгеноспектрального анализа 752 2.6 Примеры рентгеноспектрального флуоресцентного анализа 754 2.6.1 Анализ с поправками на поглощение аналитической линии в образце 754 2.6.2 Анализ с поправками на поглощение аналитической и первичного излучения 755 3. Микрорентгеноспектральный анализ 736 3.1 Физические особенности рентгеноспектрального анализа 736 3.2 Детекторы рентгеновского излучения 761 3.3 Рентгеновские микроанализаторы 763 3.4 Качественный микрорентгеноспектральный анализ 765 3.5 Полуколичественный и количественный анализ 766 3.6 Примеры практического применения 768 3.6.1 Ликвация в сталях и сплавах 768 3.6.2 Ликвация в сплавах на основе никеля 770 3.6.3 Рентгеновский микроанализ при изучении диффузионных процессов 771 4. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии 772 5. Применение лазеров в спектральном анализе 776
6. Методы металлографии 780 6.1 Методы подготовки объектов 780 6.2 Металлографические микроскопы 781 6.3 Практическая металлография 783 7. Методы просвечивающей электронной микроскопии 784 7.1 Физические особенности электронной оптики 784 7.2 Механизм формирования контраста в электронном микроскопе 793 7.3 Методы подготовки объектов 799 8. Отражательный электронный микроскоп 808 9. Эмиссионный электронный микроскоп 809 10. Автоэлектронная микроскопия 809 11. Автоионная микроскопия 811 12. Растровая сканирующая электронная микроскопия 812 12.1 Физические особенности работы растрового микроскопа 812 12.2 Формирование изображения и контраст в растровом электронном микроскопе 818 12.2.1. Троекторный контраст 820 12.2.2 Топографический контраст 821 12.3 Методы обработки видиосигналов 823 12.4 Методы подготовки объектов 824 12.5 Методы совместного использования растрового электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора 826 13. Сканирующая туннельная микроскопия 830 14. Дифракционная электронная микроскопия 831 14.1 Физические особенности дифракции электронов 831 14.2 Физический механизм формирования дифракционного контраста 835 15. Рентгеноструктурный анализ 842 15.1 Физические особенности рентгеноструктурно анализа 842 15.2 Источники рентгеновского характеристического излучения 846 15.3 Методы регистрации характеристического рентгеновского излучения 848 15.4 Дифракция рентгеновского излучения 852 15.5 Методы индицирования дифракционных спектров 854 15.6 Качественный рентгеновский фазовый анализ 855 15.7 Количественный рентгеновский фазовый анализ 857 15.7.1 Метод гомологических пар 857 15.7.2 Метод внутреннего стандарта 857 15.7.3 Фазовый анализ при наложении линий определяемой фазы 858 15.7.4 Метод измерения отношения интенсивностей аналитических линий 858 15.7.5 Метод измерения массового коэффициента поглощения 859 15.7.6 Метод внешнего стандарта 859 15.7.7 Метод наложения 859
15.8 Методы практического расчёта параметров элементарной ячейки 860 15.9 Методы расчёта структурных параметров кристаллических материалов 864 15.9.1 Особенности расчёта структурных параметров 864 15.9.2 Метод определения величины микронапряжений и кристаллических блоков методом аппроксимации 865 15.9.3 Определение величины микронапряжений и кристаллических блоков методом гармонического анализа 868 16. Практические работы 870 16.1 Эмиссионный оптический анализ 870 16.2 Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ 871 16.3 Дифракционная электронная микроскопия 874 16.4 Микрорентгеноспектральный анализ 878 16.5 Рентгеноструктурный анализ 882 16.5.1 Фазовый анализ по данным о межплоскостных расстояниях 882 16.5.2 Расчёт параметра кристаллической решётки для кубической сингонии 884 16.5.3 Определение микродеформаций и областей когерентного рассеяния методом аппроксимации 886 Литература 795
|