![]() Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Шкала дня выставления балла возникновения О (FMEA процесса)
Примечание 1. Статистический индекс Cpk определяет практические возможности технологического процесса по обеспечению выполнения требований установленного допуска на данный показатель качества Х. Индекс Cpk вычисляют по формуле:
Примечание 2. Пример расчета для определения индекса Рpk при частоте дефектов 5000 ppm. Частота дефектов = 5000/1000000 = 0, 005 Так как допуск двухсторонний, то частота дефектов 0, 005/2 = 0, 0025 По таблице расчета значений нормального распределения при значении хвоста 0, 0025 имеем значение Z = 2, 81. 1) 2) 3) замените с использованием Z; 4) Рpk = Z / 3 = 2, 81 / 3 = 0, 9367 ≈ 0, 94, где SL – значение поля допуска показателя качества Х; U, L – верхнее и нижнее предельные значения поля допуска;
Приведенные значения Срк и Ррк должны использоваться командой FMEA как руководство при определении ранга возникновения, когда имеются надлежащие статистические данные. Другого применения этих значений Срк и Ррк не предусмотрено.
|