![]() Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Экспериментальные результаты ⇐ ПредыдущаяСтр 4 из 4
В таблице 2 представлены исходные данные для записи спектров.
Таблица 2 – Исходные данные
Обработали полученные спектры с помощью программы «Oridgin 8». Из полученных спектров вычли фон, определили энергии и интенсивности пиков (энергию определяли по отрицательному максимуму), зарегистрированных в спектрах. Ниже представлены полученные спектры.
Рисунок 7 – 1 Спектр вторичных электронов Ер = 450 эВ, коэффициент усиления 20
Рисунок 8 – 2 Спектр вторичных электронов Ер = 900 эВ, коэффициент усиления 50
По построенным графикам (рисунок 7, 8) определили параметры пиков (энергия и интенсивность) для каждого спектра, результаты значений представлены в таблицах 3 и 4 соответственно.
Таблица 3 – Измеренные параметры пиков (энергия)
Таблица 4 – Измеренные параметры пиков (интенсивность)
На поверхности есть оже-электроны, (не знаю как написать, ты же умный вот и придумай) Используя таблицу 5, идентифицировали элементы на поверхности исследуемого образца.
Таблица 5 – Коэффициенты элементной чувствительности Si и энергии оже-пиков Ei некоторых элементов (Ep = 3 кэВ)
На спектрах 7 и 8: Пики 1 имеют энергии Е1 = 91 эВ, исходя из таблицы это кремний (Si =0, 35). Пики 2 имеет энергию Е1 = 274 эВ и Е1 = 277 эВ, исходя из таблицы пики 3 это углерод (Si =0, 18). Используя формулу 7, рассчитали атомные концентрации всех элементов, зарегистрированных в оже-спектрах:
Для первого спектра:
Для второго спектра:
Тут наверное надо написать что концентрация тех больше и блаблабла, у меня голова болит, не могу думать
В данной работе были изучены физические основы метода электронной оже-спектроскопии, качественный и количественный элементный анализ поверхности методом электронной оже-спектроскопии. Были записаны спектры вторичных электронов при разных значениях энергии первичных электронов и коэффициентах усиления с помощью программы «VR_Lab». Определены энергии и интенсивности пиков, а также их природа. Рассчитали атомные концентрации всех элементов, зарегистрированных в оже-спектрах.
|