![]() Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Розподілені структурні властивості
Для формування розподілених характеристик образу використовуємо гістограмну модель, наприклад, із 8 позицій. Спочатку введемо кількість розподілених структурних параметрів CRD і IAD як залежність їх від інтенсивності (замість позначень структурних об’єктів та їх кількостей CR, IA використаємо змінну CL): CLd (BIM) = { CLd 1(BIM), CLd 2(BIM), …, CLd (BIM)}, (4.18) де Δ CL (BIM) = 256 / 8. Застосуємо вісім інтервалів для інтегральної інтенсивності BIM: 0÷ 31, 32÷ 63, 64÷ 95,..., 224÷ 255. Гістограмна модель для структурних коефіцієнтів залежить від їх розміру наступним чином: CLd (S) = { CLd 1(S), CLd 2(S), …, CLd (S)}, (4.19) де інтервал гістограми є Δ = S (P)/8. Для формування розподілених в просторі характеристик образу за гістограмною моделлю покриваємо регіонами або зв’язними областями образ сіткою із кроком, наприклад, 4× 2. На рис. 4.3 представлено розбиття образу на 8 прямокутників (для кращого розуміння процедури прямокутники рознесені). а б Рис. 4.3. Розбиття образу на 8 прямокутників: кластери (а) і регіони (б), що входять до відповідного прямокутника Для кожного кроку сітки обчислюємо кількість регіонів або зв’язних областей, що покривають його. Таким чином, отримуємо розподілені в просторі кількісні характеристики структурних об’єктів: CLd (XY) = { CLd 1(XY), CLd 2(XY), …, CLd 8(XY)}, (4.20) Обчислюючи інтегральні інтенсивності для кожного кроку сітки з відповідним структурним об’єктом отримуємо для образу його розподілені в просторі характеристики яскравостей: BId (CL, XY) = { BId 1(CL, XY), BId 2(CL, XY),..., BId 8(CL, XY)}, (4.21) де: Δ XY = S (P)/8, BIM (CL) = (1/ CL)
Обчислюючи кількість структурних об’єктів, що покривають крок сітки, отримуємо розподілені в просторі кількісні структурні властивості – кількість відповідних структурних об’єктів в кожному підпросторі: Kvd(P)= { Kvd 1(CL, XY), Kvd 2(CL, XY),, Kvd 8(CL, XY)}, (4.22) де: Δ XY = S (P)/8, Kvd (CLp) = (1 / CLp) I p(CLp -1) – підмножина індексів структурних об’єктів, що формують кластери рівня CLp.
|