Главная страница Случайная страница КАТЕГОРИИ: АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Оценка остаточного числа дефектов после комплексной отладки
Комплексная отладка проводится по подсистемам в целом и имеет целью функциональное тестирование и тестирование межсекционных и внешних связей Остаточное число дефектов и эффективность отладки прогнозируются с помощью модели КМ. Результаты расчетов вероятности необнаружения дефекта и среднего остаточного числа дефектов по формулам (10.23) и (10.25) для двухканальной системы при приведены в табл. 4.12. Данные для взяты из табл. 4.9. Таблица 4.12 Результаты комплексной отладки
Для оценки остаточного числа дефектов в БД принят коэффициент эффективности тестирования Трудоемкость КО равна сумме длительностей тестовых последовательностей при отладке подсистем: Полученное значение сравнимо с трудоемкостью автономной отладки ( = 635 159). После КО не полностью проверенными оказались КМ ранга r от 9 до 17 для подсистемы ДУ и ранга r от 9 до 20 для АУ и ОП. Проанализируем связь эффективности и полноты отладки. 1. Поскольку в пределах КМ наблюдается равномерное распределение вероятности появления дефекта по различным комбинациям, значения полноты отладки как доли числа проверенных комбинаций и эффективности отладки как доли обнаруженных дефектов совпадают. Это значит, что между ними есть линейная зависимость. 2. Коэффициент полноты отладки для КМ -го ранга и для всей логической структуры в соответствии с (10.20) и (10.22) совпадают. Однако при коэффициент полноты отладки существенно больше, чем при (табл. 4.13), и соответственно больше коэффициента эффективности отладки. Поскольку при увеличении длины тестовой последовательности одновременно тестируются в определенной степени все КМ, это порождает нелинейную зависимость числа обнаруженных дефектов и эффективности отладки от полноты отладки логической структуры. Таблица 4.13 Коэффициент полноты отладки КМ различных рангов
3. Сравнивая данные, приведенные в табл. 4.12 и 4.13, видим, что для подсистем АУ и ОП при полноте отладки 0, 249 коэффициент эффективности отладки достигает значения 0, 83 и лежит между значениями коэффициента эффективности для КМ 13-го и 14-го рангов. Для подсистемы ДУ при полноте отладки 0, 5 коэффициент эффективности отладки и лежит между значениями для КМ 12-го и 13-го рангов. 4. Для всей совокупности подсистем полнота отладки При этом коэффициент эффективности отладки равен 0, 863, зависимость − существенно нелинейная. При довольно высокой эффективности комплексной отладки и небольшом среднем остаточном числе дефектов доля непроверенных комбинаций велика. Поэтому при нормальной эксплуатации дефекты могут проявляться в течение очень длительного времени.
|